Further Comment on "Direct Observation of Crack-Tip Geometry of SiO2 Glass by High-Resolution Electron Microscopy"

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of the American Ceramic Society 1985-10, Vol.68 (10), p.C-288-C-289
1. Verfasser: Macmillan, N. H.
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0002-7820
1551-2916
DOI:10.1111/j.1151-2916.1985.tb11536.x