Further Comment on "Direct Observation of Crack-Tip Geometry of SiO2 Glass by High-Resolution Electron Microscopy"
Gespeichert in:
Veröffentlicht in: | Journal of the American Ceramic Society 1985-10, Vol.68 (10), p.C-288-C-289 |
---|---|
1. Verfasser: | |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | |
---|---|
ISSN: | 0002-7820 1551-2916 |
DOI: | 10.1111/j.1151-2916.1985.tb11536.x |