Transmission electron microscopy study of crystal defects in ZnSe/GaAs(001) epilayers

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of physics. Condensed matter 2000-12, Vol.12 (49), p.10287-10293
Hauptverfasser:	Lavagne, S, Levade, C, Vanderschaeve, G, Crestou, J, Tournié, E, Faurie, J P
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties Defects and impurities: doping, implantation, distribution, concentration, etc Exact sciences and technology Physics Surfaces and interfaces thin films and whiskers (structure and nonelectronic properties) Thin film structure and morphology
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!