Surface chemistry of CuxS and CuxS/CdS determined from x-ray photoelectron spectroscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of applied physics 1985, Vol.57 (11), p.5056-5065
Hauptverfasser:	PARTAIN, L. D, SCHNEIDER, R. A, DONAGHEY, L. F, MCLEOD, P. S
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties Exact sciences and technology Physics Surfaces and interfaces thin films and whiskers (structure and nonelectronic properties) Thin film structure and morphology
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