Yttrium oxide thin films, Y2O3, grown by ion beam sputtering on Si

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of physics. D, Applied physics Applied physics, 2000-11, Vol.33 (22), p.2884-2889
Hauptverfasser: Gaboriaud, R J, Pailloux, F, Guerin, P, Paumier, F
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0022-3727
1361-6463
DOI:10.1088/0022-3727/33/22/304