Modeling of hall devices under locally inverted magnetic field

We present the two-dimensional numerical analysis of carrier transport in semiconductor magnetic sensors exposed to a nonuniform locally inverted induction B z (x, y). Using a finite element scheme we obtain the electrostatic potential and current density distributions for realistic device and field...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IEEE electron device letters 1987-01, Vol.8 (1), p.1-3
Hauptverfasser: Nathan, A., Allegretto, W., Baltes, H.P., Sugiyama, Y.
Format: Artikel
Sprache:eng
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