Cryostat à effect Peltier pour diffractométrie x à basse température

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Journal of physics. E, Scientific instruments Scientific instruments, 1986, Vol.19 (10), p.781-785
Hauptverfasser:	KERAVIS, D, GATINEAU, L, PEILLERON, R, MASSAUX, M
Format:	Artikel
Sprache:	fre
Schlagworte:	Generalites Instrumentation et techniques x et γ Instruments, appareillage, composants et techniques communs à plusieurs branches de la physique et de l'astronomie Physique Sciences exactes et technologie
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