Investigation of deep levels in high-resistivity bulk materials by photo-induced current transient spectroscopy. II. Evaluation of various signal processing methods

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of physics. D, Applied physics Applied physics, 1986-01, Vol.19 (1), p.71-87
Hauptverfasser:	Balland, J C, Zielinger, J P, Tapiero, M, Gross, J G, Noguet, C
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Condensed matter: electronic structure, electrical, magnetic, and optical properties Electron states Exact sciences and technology Impurity and defect levels Physics
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