Characterisation of Ga1-xInxAs/Al1-yInyAs multiple quantum wells by Raman scattering
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Veröffentlicht in: | Semiconductor science and technology 1987-10, Vol.2 (10), p.683-686 |
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Hauptverfasser: | , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext |
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ISSN: | 0268-1242 1361-6641 |
DOI: | 10.1088/0268-1242/2/10/010 |