Spectral Selectivity of Mn/SiO Films

The spectral selectivity of Mn/SiO films in the thickness range 80 to 151 nm is studied in the wavelength range 320 to 900 nm, for near normal incidence of light. The reflectance and absorbance is studied for different thicknesses of Mn/SiO films. The annealed films, in general, show higher reflectance and lower absorbance for all film thicknesses. The annealed Mn/SiO film of thickness 151 nm shows very high reflectance (>90%) and minimum absorbance over a very narrow wavelength range (652 to 752 nm). The wavelength and thickness dependence of the refractive index is reported for Mn/SiO films. Die spektrale Selektivität von Mn/SiO‐Schichten im Dickenbereich 80 bis 151 nm wird im Wellenlängenbereich 320 bis 900 nm für fast normalen Lichteinfall untersucht. Für verschiedene Dicken der Mn/SiO‐Schichten wird das Reflexions‐ und Absorptionsvermögen untersucht. Getemperte Schichten zeigen im allgemeinen höheres Reflexionsvermögen und niedrigeres Absorptionsvermögen bei alien Schichtdicken. Getemperte Mn/SiO‐Schichten mit der Dicke 151 nm zeigen sehr hohes Reflexionsvermögen (>90%) und minimales Absorptionsvermogen über einen sehr schmalen Wellenlängenbereich (652 bis 752 nm). Auch die Wellenlängen‐ und Dickenabhängigkeiten des Brechungsindex werden für die Mn/SiO‐Schichten mitgeteilt.