Observation of concentration boundary layers around growing or dissolving KH2PO4 crystals in stagnant solutions

The solute concentration profiles around KH2PO4 crystals growing or dissoloving in stagnant aqueous solutions were studied by the schlieren method after Toepler. By this technique the thicknesses of concentration boundary layers around the crystals, formed by free convection of solution, were measured in dependence of crystal size and super (under) saturation. In the case of dissolution, theoretical estimation of the boundary layer thickness yielded a fair agreement with the observed value. For growth, the process is dominantly limited by surface kinetics, whereas volume diffusion plays a minor role. Mit Hilfe von Toeplers Schlierenmethode werden die Konzentrationsprofile um wachsende oder sich lösende KH2PO4 Kristalle studiert. Mit dieser Methode wurde die Dicke der Grenzschichten um die Kristalle, wie sie bei freier Konvektion in der Lösung gebildet werden in Abhängigkeit von Kristallgröße und Über‐(Unter‐)sättigung bestimmt. Im Falle der Auflösung stimmt die experimentell bestimmte Dicke der Grenzschicht mit theoretischen Abschätzungen überein. Beim Wachstum dominiert die Obserflächenkinetik, und die Volumendiffusion spielt nur eine untergeordnete Rolle.