Improved LEED system using positio-sensitive detection

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Review of scientific instruments 1988, Vol.59 (9), p.1951-1953
1. Verfasser:	MALIC, R. A
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Electron, positron and ion microscopes, electron diffractometers and related techniques Exact sciences and technology Instruments, apparatus, components and techniques common to several branches of physics and astronomy Physics
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