Estimation of percentage relaxation in Si/Si1-xGex strained-layer superlattices

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Semiconductor science and technology 1989-01, Vol.4 (1), p.10-15
Hauptverfasser:	Halliwell, M A G, Lyons, M H, Davey, S T, Hockly, M, Tuppen, C G, Gibbings, C J
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties Exact sciences and technology Low-dimensional structures (superlattices, quantum well structures, multilayers): structure, and nonelectronic properties Physics Surfaces and interfaces thin films and whiskers (structure and nonelectronic properties)
Online-Zugang:	Volltext
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