Measuring and fitting ther MOS transistor at high frequencies

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	IEEE transactions on instrumentation and measurement 1988, Vol.37 (4), p.591-595
Hauptverfasser:	VANDELOO, P, SANSEN, W
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Electronics Exact sciences and technology Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices Transistors
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!