Focused ion beam fabrication of single grain Bi2Sr2Ca1Cu2Ox submicron bridges

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Applied physics letters 1991-08, Vol.59 (6), p.727-729
Hauptverfasser: ZITKOVSKY, I. D, QING HU, ORLANDO, T. P, MELNGAILIS, J, TAO TAO
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0003-6951
1077-3118
DOI:10.1063/1.105353