Effect of preparation conditions on the properties of CdSe microcrystal-doped SiO2 glass thin films prepared by RF-sputtering

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Japanese journal of applied physics 1992-07, Vol.31 (7), p.2206-2211
Hauptverfasser: KANEKO, S, NASU, H, IKEGAMI, T, MATSUOKA, J, KAMIYA, K
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0021-4922
1347-4065
DOI:10.1143/jjap.31.2206