Characterization of evaporated Si and SiO films by inelastic electron tunneling spectroscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of physical chemistry (1952) 1992, Vol.96 (4), p.1848-1854
Hauptverfasser:	HIGO, M, NISHINO, K, KAMATA, S
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties Exact sciences and technology Physics Solid surfaces and solid-solid interfaces Surface and interface dynamics and vibrations Surfaces and interfaces thin films and whiskers (structure and nonelectronic properties) Thin film structure and morphology
Online-Zugang:	Volltext
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