Quantitative analysis of Laue diffraction patterns recorded with a 120 ps exposure from an X-ray undulator

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of applied crystallography 1992-06, Vol.25, p.414-423
Hauptverfasser: SZEBENYI, D. M. E, BILDERBACK, D. H, LEGRAND, A, MOFFAT, K, SCHILDKAMP, W, SMITH TEMPLE, B, TSU-YI TENG
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0021-8898
1600-5767
DOI:10.1107/S0021889891014826