Quantitative analysis of Laue diffraction patterns recorded with a 120 ps exposure from an X-ray undulator
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Veröffentlicht in: | Journal of applied crystallography 1992-06, Vol.25, p.414-423 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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Zusammenfassung: | |
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ISSN: | 0021-8898 1600-5767 |
DOI: | 10.1107/S0021889891014826 |