MBE grown GaAs on GaAs (001) : UHV x-ray diffraction measurememts

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Journal of physics. Condensed matter 1992, Vol.4 (17), p.4221-4232
Hauptverfasser:	BLOCH, R, BRUGEMANN, L, PRESS, W, TOLAN, M, BEHRENS, K.-M, OLDE, U, SKIBOWSKI, M
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties Exact sciences and technology Physics Solid surfaces and solid-solid interfaces Surface and interface dynamics and vibrations Surfaces and interfaces thin films and whiskers (structure and nonelectronic properties) Thin film structure and morphology
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