A 576K 3.5-ns access BiCMOS ECL static RAM with array built-in self-test

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEEE journal of solid-state circuits 1992-04, Vol.27 (4), p.649-656
Hauptverfasser:	BONGES, H. A, ADAMS, R. D, ROBERTS, A. L, ALLEN, A. J, FLAKER, R, GRAY, K. S, HEDBERG, E. L, HOLMAN, W. T, LATTIMORE, G. M, LAVALETTE, D. A, NGUYEN, K. Y. T
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Electronics Exact sciences and technology Integrated circuits Integrated circuits by function (including memories and processors) Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!