Layer-by-layer etching of Si(100)-2×1 with Br2 : a scanning-tunneling-microscopy study

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Physical review. B, Condensed matter Condensed matter, 1993, Vol.47 (19), p.13035-13038
Hauptverfasser:	CHANDER, M, LI, Y. Z, PATRIN, J. C, WEAVER, J. H
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties Exact sciences and technology Physics Solid surfaces and solid-solid interfaces Surface structure and topography Surfaces and interfaces thin films and whiskers (structure and nonelectronic properties)
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