$Present status of the topography and high-resolution diffraction beamline at the ESRF$

Present status of the topography and high-resolution diffraction beamline at the ESRF

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of physics. D, Applied physics Applied physics, 1993-04, Vol.26 (4A), p.A9-A14
Hauptverfasser:	Baruchel, J, Draperi, A, Zontone, F
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Exact sciences and technology Instruments, apparatus, components and techniques common to several branches of physics and astronomy Physics X- and γ-ray instruments and techniques
Online-Zugang:	Volltext
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