$Simulation of X-ray diffraction curves from ion-implanted wafers and relaxed II-VI superlattices$

Simulation of X-ray diffraction curves from ion-implanted wafers and relaxed II-VI superlattices

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of physics. D, Applied physics Applied physics, 1993-04, Vol.26 (4A), p.A177-A180
Hauptverfasser:	Pesek, A, Kastler, P, Palmetshofer, L, Hauzenberger, F, Juza, P, Faschinger, W, Lischka, K
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties Exact sciences and technology Low-dimensional structures (superlattices, quantum well structures, multilayers): structure, and nonelectronic properties Physics Surfaces and interfaces thin films and whiskers (structure and nonelectronic properties)
Online-Zugang:	Volltext
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