A new method to measure and increase the detection efficiency of a microchannel plate for 100 keV electrons

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Measurement science & technology 1990-07, Vol.1 (7), p.576-580
1. Verfasser:	Tornow, R P
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Exact sciences and technology Instruments, apparatus, components and techniques common to several branches of physics and astronomy Physics
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