$A scanned-angle and scanned-energy photoelectron diffraction study of (√3×√3)R30° Ag on Si(111)$

A scanned-angle and scanned-energy photoelectron diffraction study of (√3×√3)R30° Ag on Si(111)

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Surface science 1993-03, Vol.284 (1-2), p.23-52
Hauptverfasser:	HERMAN, G. S, BULLOCK, E. L, RICKEN, D. E, ROBINSON, A. W, BRADSHAW, A. M, YAMADA, M, KADUWELA, A. P, FRIEDMAN, D. J, THEVUTHASAN, S, KIM, Y. J, TRAN, T. T, FADLEY, C. S, LINDNER, T
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties Exact sciences and technology Metals. Metallurgy Physics Solid surfaces and solid-solid interfaces Surface structure and topography Surfaces and interfaces thin films and whiskers (structure and nonelectronic properties)
Online-Zugang:	Volltext
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