The influence of the native BaAl2O4 boundary layer on microstructure and properties of YBa2Cu3O7-x thin films grown on sapphire

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Materials science & engineering. B, Solid-state materials for advanced technology Solid-state materials for advanced technology, 1992-10, Vol.15 (1), p.25-31
Hauptverfasser: DOVINDENKO, K, OKTYABRSKY, S, TOKARCHUK, D, MICHALTSOV, A, IVANOV, A
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0921-5107
1873-4944
DOI:10.1016/0921-5107(92)90024-4