Influence of low-frequency 1/f noise on threshold characteristics of photodetectors with charge accumulation

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Infrared physics 1992-11, Vol.33 (6), p.451-457
Hauptverfasser: SUKHANOV, A. N, OSIPOV, V. V, MAMEDOV, I. M
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0020-0891
DOI:10.1016/0020-0891(92)90059-3