The determinatin of valence band discontinuities in Si/Si1-xGex/Si heterojunctions by capacitance-voltage techniques
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Veröffentlicht in: | Journal of applied physics 1993, Vol.74 (3), p.1894-1899 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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ISSN: | 0021-8979 1089-7550 |