Analytical filtering of low-angle inelastic scattering contributions to CBED contrast

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Ultramicroscopy 1994-09, Vol.55 (3), p.268-275
Hauptverfasser:	MARTHINSEN, K, HOLMESTAD, R, HØIER, R
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Electron, positron and ion microscopes, electron diffractometers and related techniques Exact sciences and technology Instruments, apparatus, components and techniques common to several branches of physics and astronomy Physics
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