Heavy ion and proton analysis of a GaAs-HIGFET SRAM

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	CUTCHIN, J. H, MARSHALL, P. W, WEATHERFORD, T. R, LANGWORTHY, J, PETERSEN, E. L, CAMPBELL, A. B, HANKA, S, PECZALSKI, A
Format:	Tagungsbericht
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Electronics Exact sciences and technology Integrated circuits Integrated circuits by function (including memories and processors) Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices
Online-Zugang:	Volltext
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