In0.52Al0.48As/InxGa1-xAs (0.53<x<1.0) pseudomorphic high electron mobility transistors with high breakdown voltages : design and performances

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Japanese journal of applied physics 1996, Vol.35 (1A), p.10-15
Hauptverfasser: DICKMANN, J, RIEPE, K, GEYER, A, MAILE, B. E, SCHURR, A, BERG, M, DAEMBKES, H
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0021-4922
1347-4065
DOI:10.1143/jjap.35.10