Improvement of water-related hot-carrier reliability by optimizing the plasma-enhanced tetra-ethoxysilane deposition process

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of the Electrochemical Society 1997-08, Vol.144 (8), p.2898-2903
Hauptverfasser: LIN, Y. M, JANG, S. M, YU, C. H, LEI, T. F
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0013-4651
1945-7111
DOI:10.1149/1.1837914