The Effect of Single Crystalline Substrates and Ion-Beam Bombardment on Exchange Bias in Nanocrystalline NiO/Ni80Fe20 Bilayers

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IEEE transactions on magnetics 2014, Vol.50 (1)
Hauptverfasser: CORTIE, D. L, SHUEH, C, LAI, B.-C, PONG, P. W. T, VAN LIEROP, J, KLOSE, F, LIN, K.-W
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0018-9464
1941-0069
DOI:10.1109/TMAG.2013.2274654