Evaluation of Electron Trapping Speed of AlGaN/ GaN HEMT With Real-Time Electroluminescence and Pulsed I―V Measurements : GaN ELECTRONIC DEVICES

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEEE transactions on electron devices 2013, Vol.60 (10), p.3183-3189
Hauptverfasser:	WAKEJIMA, Akio, WILSON, Amalraj Frank, MASE, Suguru, JOKA, Takuya, EGAWA, Takashi
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Charge transfer devices Electronics Exact sciences and technology Imaging devices Measurements common to several branches of physics and astronomy Metrology, measurements and laboratory procedures Physics Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices Time and frequency Transistors
Online-Zugang:	Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:	0018-9383 1557-9646