Investigation of electron mobility in surface-channel Al2O3/In0.53Ga0.47As MOSFETs: Selected extended papers from ULIS 2012 conference
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Veröffentlicht in: | Solid-state electronics 2013, Vol.88, p.37-42 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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ISSN: | 0038-1101 1879-2405 |