Trap density characterization through low-frequency noise in junctionless transistors: Insulating Films on Semiconductors 2013

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Microelectronic engineering 2013, Vol.109, p.79-82
Hauptverfasser:	RODRIGO TREVISOLI DORIA, RENAN DORIA TREVISOLI, DE SOUZA, Michelly, PAVANELLO, Marcelo Antonio
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Electronics Exact sciences and technology Molecular electronics, nanoelectronics Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!