High-Bitrate-Measurement-System-Oriented Lower-Jitter 113-Gbit/s 2:1 Multiplexer and 1:2 Demultiplexer Modules Using 1-μm InP/InGaAs/InP Double Heterojunction Bipolar Transistors : Analog Circuits and Related SoC Integration Technologies

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEICE transactions on electronics 2013, Vol.96 (6), p.912-919
Hauptverfasser:	ARAYASHIKI, Yutaka, KAMIZONO, Takashi, OHKUBO, Yukio, MATSUMOTO, Taisuke, AMANO, Yoshiaki, MATSUOKA, Yutaka
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Circuit properties Design. Technologies. Operation analysis. Testing Electric, optical and optoelectronic circuits Electronic circuits Electronics Exact sciences and technology Integrated circuits Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices Switching, multiplexing, switched capacity circuits Testing, measurement, noise and reliability Transistors
Online-Zugang:	Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:	0916-8524 1745-1353