A Standard-Cell Based On-Chip NMOS and PMOS Performance Monitor for Process Variability Compensation : Analog Circuits and Related SoC Integration Technologies

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEICE transactions on electronics 2013, Vol.96 (6), p.894-902
Hauptverfasser:	YAMAGISHI, Toshiyuki, SHIOZAWA, Tatsuo, HORISAKI, Koji, HARA, Hiroyuki, UNEKAWA, Yasuo
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Circuit properties Design. Technologies. Operation analysis. Testing Electric, optical and optoelectronic circuits Electronic circuits Electronics Exact sciences and technology Integrated circuits Oscillators, resonators, synthetizers Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices Signal convertors Transistors
Online-Zugang:	Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:	0916-8524 1745-1353