Bias-Stress-Induced Instabilities in P-Type Cu2O Thin-Film Transistors

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEEE electron device letters 2013-05, Vol.34 (5), p.647-649
Hauptverfasser:	PARK, Ick-Joon, JEONG, Chan-Yong, MYEONGHUN, U, SONG, Sang-Hun, CHO, In-Tak, LEE, Jong-Ho, CHO, Eou-Sik, KWON, Hyuck-In
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Electronics Exact sciences and technology Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices Transistors
Online-Zugang:	Volltext
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