Numerical modelling and characterization of high-frequency high-power high-temperature GaN/SiC heterostructure bidolar transistors

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Veröffentlicht in:International journal of electronics 1997, Vol.82 (6), p.567-574
Hauptverfasser: FARDI, H. Z, ALAGHBAND, G, PANKOVE, J. I
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0020-7217
1362-3060