Impact Ionization Coefficients in Al0.52In0.48P

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEEE electron device letters 2011-11, Vol.32 (11), p.1528-1530
Hauptverfasser:	ONG, Jennifer S. L, NG, Jo S, KRYSA, Andrey B, DAVID, John P. R
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Compound structure devices Diodes Electronics Exact sciences and technology Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices
Online-Zugang:	Volltext
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