Chemically amplified deep UV resists for micromachining using electron beam lithography and dry etching

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Sensors and materials 1998, Vol.10 (4), p.219-227
Hauptverfasser: HUDEK, P, RANGELOW, I. W, KOSTIC, I, STANGL, G, GRABIEC, P. B, RANGELOW, E. W, BELOV, M, FENG SHI
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0914-4935
2435-0869