Structural properties and electronic transport in intrinsic microcrystalline silicon deposited by the VHF-GD technique

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: GOERLITZER, M, TORRES, P, BECK, N, WYRSCH, N, KEPPNER, H, POHL, J, SHAH, A
Format: Tagungsbericht
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0022-3093
1873-4812