Theoretical study of the source-drain current and gate leakage current to understand the graphene field-effect transistors: Scattering Methods applied to Soft Matter

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Physical chemistry chemical physics : PCCP 2011, Vol.13 (8), p.3461-3467
Hauptverfasser:	CUI YU, HONGMEI LIU, WENBIN NI, NENGYUE GAO, JIANWEI ZHAO, HAOLI ZHANG
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Chemistry Exact sciences and technology General and physical chemistry
Online-Zugang:	Volltext
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