17 keV photon induced damage of Bi-2212 whiskers by synchrotron μ-beam exposure

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Superconductor science & technology 2011-03, Vol.24 (3), p.035009
Hauptverfasser: Aldica, G, Cagliero, S, Agostino, A, Lamberti, C, Truccato, M
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0953-2048
1361-6668
DOI:10.1088/0953-2048/24/3/035009