A Range Image Sensor Based on 10-μm Lock-In Pixels in 0.18-μm CMOS Imaging Technology

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEEE journal of solid-state circuits 2011, Vol.46 (1), p.248-258
Hauptverfasser:	STOPPA, David, MASSARI, Nicola, PANCHERI, Lucio, MALFATTI, Mattia, PERENZONI, Matteo, GONZO, Lorenzo
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Circuit properties Design. Technologies. Operation analysis. Testing Electric, optical and optoelectronic circuits Electronic circuits Electronics Exact sciences and technology Imaging devices Integrated circuits Optoelectronic devices Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices Signal convertors
Online-Zugang:	Volltext
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