Analysis of Phase Noise Degradation Considering Switch Transistor Capacitances for CMOS Voltage Controlled Oscillators : Analog Circuits and Related SoC Integration Technologies

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEICE transactions on electronics 2010, Vol.93 (6), p.777-784
Hauptverfasser:	MURAKAMI, Rui, HARA, Shoichi, OKADA, Kenichi, MATSUZAWA, Akira
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Circuit properties Design. Technologies. Operation analysis. Testing Electric, optical and optoelectronic circuits Electronic circuits Electronics Exact sciences and technology Integrated circuits Oscillators, resonators, synthetizers Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices Switching, multiplexing, switched capacity circuits Transistors
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Beschreibung
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ISSN:	0916-8524 1745-1353