Photon emission from clean and oxygenated Si and SiO2 surfaces bombarded by 5 keV krypton ions

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Applied surface science 2009-10, Vol.256 (1), p.116-119
Hauptverfasser: KADDOURI, A, ASHRAF, I, AIT EL FQIH, M, TARGAOUI, H, EL BOUJLAÏDI, A, BERRADA, K
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0169-4332
1873-5584
DOI:10.1016/j.apsusc.2009.07.087