A 100 MS/s 4 MHz Bandwidth 70 dB SNR ΔΣ ADC in 90 nm CMOS

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEEE journal of solid-state circuits 2009-06, Vol.44 (6), p.1697-1708
Hauptverfasser:	FUJIMOTO, Yoshihisa, KANAZAWA, Yusuke, LO RE, Pascal, IIZUKA, Kunihiko
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Circuit properties Design. Technologies. Operation analysis. Testing Dielectric, amorphous and glass solid devices Electric, optical and optoelectronic circuits Electronic circuits Electronics Exact sciences and technology Imaging devices Integrated circuits Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices Signal convertors
Online-Zugang:	Volltext
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