$Structural determination of the C60/Ge(111) interface via X-ray diffraction$

Structural determination of the C60/Ge(111) interface via X-ray diffraction

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Surface science 1998, Vol.397 (1-3), p.185-190
Hauptverfasser:	KIDD, T, ABURANO, R. D, HAWOON GHONG, GOG, T, CHIANG, T.-C
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties Exact sciences and technology Interface structure and roughness Physics Solid surfaces and solid-solid interfaces Surfaces and interfaces thin films and whiskers (structure and nonelectronic properties)
Online-Zugang:	Volltext
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