Electron probe X-ray microanalysis for the assessment of homogeneity of candidate reference materials at the nanogram level

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Mikrochimica acta (1966) 1998, Vol.128 (3-4), p.207-213
Hauptverfasser: HOORNAERT, S, TREIGER, B, VALKOVIC, V, VAN GRIEKEN, R
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0026-3672
1436-5073
DOI:10.1007/bf01243051